| 品牌 | 其他品牌 | 貨號 | 123 |
|---|---|---|---|
| 規格 | CSG-40-80-2UH-SP | 供貨周期 | 一個月以上 |
| 主要用途 | 機械設備 | 應用領域 | 電子/電池 |
| 名稱 | 哈默納科 | 用途 | 半導體、機器人、機械設備 |
| 材質 | 鋼 | 是否進口 | 是 |
接觸形式與測頭的選擇
在接觸測量中，體現被測參數的表面與量儀之間的接觸形式分為三種:點接觸形式，如球形測頭與平面工件接觸;線接觸形式哈默納科平面測頭諧波CSG-40-80-2UH-SP，如平面測頭與圓柱形工件表面接觸;面接觸形式，如平面測頭與平面工件接觸。
接觸形式對測量結果有影響。正確選擇接觸形式的原則是優先考慮采用點接觸;在條件不允許或實現較為困難時，哈默納科平面測頭諧波CSG-40-80-2UH-SP考慮采用線接觸;不得已時才采用面接觸。
對線紋尺的檢定方法有相對測量法和測量法。在相對測量法檢定線紋尺中，將被檢定線紋尺與比其精度等級高一等的標準線紋尺在線紋尺比較儀上作相對測量，讀出二者刻線間距的長度差，從而確定被檢線紋尺刻線間距的誤差。在測量法檢定線紋尺中，將被檢線紋尺在激光干涉比長儀上進行測量。其實質是將被檢線紋尺的刻線間距轉變成為三面直角棱鏡的位移，從而使干涉系統中兩相干光束的光程差發生相應的變化，通過光電接收器對干涉條紋明暗交替次數的檢測，即可求出被檢線紋尺相應刻線間距的誤差在線紋量值傳遞系統中，
